CTP10 - 无源光器件测试平台

性能强大的无源光器件测试平台,适用于测试WDM器件和光子集成电路

主要优点

使用扫频技术进行光损耗(IL、PDLRL)和光电流测量 

业内率先支持全波段PDL测量,覆盖从1260 nm1620 nm的波长 

将高动态范围、高精准度、亚皮米级分辨率和高测试速度结合起来 

集成的解决方案,配备强大的GUI,并内置先进的分析功能 

采用可扩展的架构,适用于研发和制造环境 

应用

以亚皮米级分辨率对集成光子器件进行光谱鉴定 

制造和研发环境中的多输入无源光器件测试
WSS和ROADM校准与测试
薄膜滤波器(TFF)鉴定

Description

CTP10是一种模块化测量平台,可高效地全天候测试无源器件。通过它,您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)或回损(RL)测量。CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路(PIC)的理想设备。它可以结合T100S-HP系列扫频可调谐激光器,在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。 

下一代平台和模块

CTP10平台可安装多达10个热插拔模块,包括用于光谱鉴定的各种关键模块(IL-RL OPM2或IL-PDL模块)、波长控制模块(SCAN SYNC和FBC模块)以及检测模块(OPMx模块)。这些完全集成的模块可以热插拔,从而大大减少设置时间,并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。

CTP10内置操作系统,可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构,由最多8个测试站共享一个或多个可调谐激光器,并添加一个辅助主机,以测试100多个端口。

性能强劲

CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能,并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描,测量的动态范围超过70 dB,从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm(10000 dB/nm)的清晰光谱特征,使CTP10成为未来测量波长可选择开关(WSS)或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。

SCAN SYNC模块能够以20 fm的采样分辨率进行动态的波长测量,且可重复性非常高。 

GUI强大直观

CTP10围绕三个关键原则被开发出来:集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI,从而简化测试配置和测量过程。CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器,让您专注于真正重要的事情:测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带(如WDM或WSS)和阻带滤波器。

奖项和荣誉

创新和领导力一直是EXFO关注的核心和首要问题。每年,我们都努力开发出可在更智能的现代网络中确保优异客户体验的解决方案。得到这样的认可始终是一项殊荣。了解公司所获奖项的详情:

Judge

Highly accurate and automated measurements of insertion loss and PDL from 1240 nm to 1680 nm with powerful data processing significantly shortens testing time.
Advanced module in passive optical component testing platform

支持