Ressources
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Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - English
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 中文
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 日本語
(26 octobre 2021)
Bulletins techniques
Testing next-gen PIC-based transceivers - English
(07 juillet 2021)
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - English
(02 juillet 2021)
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - 中文
(02 juillet 2021)
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - Français
(02 juillet 2021)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - English
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 中文
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 日本語
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
EXFO demos - OIF interops - English
(18 mars 2022)
Dépliants et prospectus
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語
(26 octobre 2021)
Déclaration de conformité
[DOC-114-287] BA-4000 | CE - English
(29 juin 2021)
Démos produits
800G bit-error-rate testing enhanced with FEC capabilities - Français
(18 mai 2023)
Démos produits
Leading-edge BER testing up to 800G - Français
(18 mai 2023)