EXFO发布速度快、完全集成的无源元器件测试系统

新发布的CTP10元器件测试平台和模块组为研发人员提供在研发和制造环境中准确测试各种无源元器件的功能

加拿大魁北克市，2018年3月13日——网络测试、监测与分析专家EXFO Inc.（NASDAQ：EXFO）（TSX：EXF）今天发布速度快的测试系统，用于测量包括光子集成电路在内的各种无源元器件的插损（IL）和回损（RL）。EXFO的CTP10集成了最近收购的Yenista Optics公司的的技术，可被研发人员用来鉴定各种元器件，也可在元器件批量生产环境中使用自动模式进行测试。

随着对数百个无源元器件组成的光子集成电路（PIC）的需求持续增长，而降低网络设备成本的压力又不断增加，无源元器件制造商开始寻找有效的测试解决方案，以便在不牺牲准确度和可靠性的情况下缩短测试时间。CTP10元器件测试平台的扫描速度最高可达1000 nm/s，能够在一次扫描中完成插损和回损测量。

EXFO测试与测量业务副总裁Stéphane Chabot说：“EXFO收购Yenista的目的是利用其技术专长，为光电信行业提供创新的测试解决方案。借助EXFO的CTP10测试平台，从事光子集成电路和下一代无源光网络元器件研发与制造的团队能够根据客户要求，灵活、准确、迅速地测试数以千计的元器件。”

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EXFO为全球领先的运营商、网络设备制造商和互联网公司开发更加智能的网络测试、监测和分析解决方案。自1985年以来，我们一直与客户携手，在实验室、数据中心、办公室等地方，率先探索网络生命周期各个阶段必不可少的技术和方法。我们的系列测试编排和实时3D分析解决方案可以化繁为简，从网络、服务和用户等角度提供对业务极为关键的洞察力。最重要的是，我们帮助客户不断发展，在这个快速转变的行业里，所谓“够好”的测试、监测和数据分析事实上已不再能够满足需要——我们从未止步于此。欲知详情，敬请访问EXFO.com，或登录EXFO 博客，了解公司最新情况。

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