OPAL-SD平台
OPAL单裸片PIC测试台由4轴手动针座、卡盘、电动光探针、手动电探针和顶视视觉系统组成。该测试台还配备一个侧面摄像头、一台服务器级PC和一个PILOT软件套件的许可证。
它提供裸片级全自动位移光探针和手动电探针。在结合了EXFO系列仪表的先进光学测量功能相后，可为光谱分析以及误码率等光电测试提供无与伦比的解决方案。OPAL-SD探针台可结合PILOT软件套件，成为一款全面、灵活、可扩展的解决方案。
PILOT自动化软件
PILOT软件套件为单裸片测试台带来了强大的功能，将其变成一个自动的测试台和高品质的测量结果来源，可对测量结果进行处理，成为可付诸实施的数据。整套应用支持完整的测试和测量流程，帮助用户提升业务的数据驱动程度。
测序环境提供了仪器驱动程序、分析工具和内置优化算法。它采用低代码开发方法，带来不需要专业技术的编程体验。用户可建立先进的测试序列、更换硬件并无缝地执行测试序列。系统在执行过程中会跟踪所有实验和硬件条件。
借助分析工具，用户可以根据定义的逻辑条件，同步或异步地启动计算。
应用
研发环境中的光子集成裸片测试
PIC光学和电子鉴定
收发器光学子系统研发
相关产品
资源
所有资源
规格表
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - English
(2024年4月22日)
规格表
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - Français
(2024年4月22日)
规格表
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - 中文
(2024年4月22日)
规格表
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - English
(2024年7月19日)
规格表
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 中文
(2024年7月19日)
规格表
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 日本語
(2024年7月19日)
规格表
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - Français
(2024年7月19日)
手册和产品目录
Optical testing solutions for universities and labs - English
(2024年10月15日)
规格表
OPAL-MD – multi-die test station - English
(2024年6月26日)
规格表
OPAL-MD – multi-die test station - Français
(2024年6月26日)
规格表
OPAL-MD – multi-die test station - 日本語
(2024年6月26日)
规格表
OPAL-MD – multi-die test station - 中文
(2024年6月26日)