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传单和宣传册
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語
(2021年10月26日)
应用说明
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - English
(2023年10月25日)
应用说明
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - 日本語
(2023年10月25日)
应用说明
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - 中文
(2023年10月25日)
应用说明
Insertion loss and return loss: relative measurements using the CTP10 platform - English
(2023年3月27日)
应用说明
Swept IL PDL measurement of WDM components with the CTP10 platform - English
(2023年3月28日)
白皮书
135 - Navigating the murky waters of swept PDL measurements - English
(2021年2月25日)
规格书
T200S - English
(2024年8月05日)
规格书
T200S - Français
(2024年8月05日)
规格书
T200S - 中文
(2024年8月05日)
传单和宣传册
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English
(2022年9月30日)
产品演示
An overview of EXFO Optics product portfolio - 中文
(2023年5月18日)
产品演示
EXFO's CTP10: Overview of the GUI for swept IL-PDL measurements - 中文
(2023年5月18日)
产品演示
Is your optical component testing future-proof? - 中文
(2023年5月18日)