Recursos
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Volantes y panfletos
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語
(octubre 26, 2021)
Notas de aplicación
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - English
(octubre 25, 2023)
Notas de aplicación
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - 日本語
(octubre 25, 2023)
Notas de aplicación
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - 中文
(octubre 25, 2023)
Notas de aplicación
Insertion loss and return loss: relative measurements using the CTP10 platform - English
(marzo 27, 2023)
Notas de aplicación
Swept IL PDL measurement of WDM components with the CTP10 platform - English
(marzo 28, 2023)
Informe técnico
135 - Navigating the murky waters of swept PDL measurements - English
(febrero 25, 2021)
Hoja de especificaciones
T200S - English
(agosto 05, 2024)
Hoja de especificaciones
T200S - Français
(agosto 05, 2024)
Hoja de especificaciones
T200S - 中文
(agosto 05, 2024)
Volantes y panfletos
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English
(septiembre 30, 2022)
Demostraciones de productos
An overview of EXFO Optics product portfolio - Español
(mayo 18, 2023)
Demostraciones de productos
EXFO's CTP10: Overview of the GUI for swept IL-PDL measurements - Español
(mayo 18, 2023)
Demostraciones de productos
Is your optical component testing future-proof? - Español
(mayo 18, 2023)