Recursos
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Notas de aplicación
Automated crosstalk characterization using the CTP10 - English
(marzo 29, 2023)
Notas de aplicación
Programming the CTP10 component test platform - English
(abril 11, 2022)
Notas de aplicación
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English
(abril 23, 2019)
Notas de aplicación
Insertion loss referencing procedure on the CTP10 test platform - English
(marzo 27, 2023)
Notas de aplicación
Return loss referencing using the CTP-10 test platform - English
(marzo 27, 2023)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - English
(febrero 03, 2023)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文
(febrero 03, 2023)
Hoja de especificaciones
CTP10 - English
(septiembre 29, 2023)
Hoja de especificaciones
CTP10 - 中文
(septiembre 29, 2023)
Hoja de especificaciones
CTP10 - Français
(septiembre 29, 2023)
Informe técnico
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English
(mayo 15, 2019)
Folletos y catálogos
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(octubre 27, 2023)
Folletos y catálogos
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - 中文
(octubre 27, 2023)
Folletos y catálogos
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - 日本語
(octubre 27, 2023)
Volantes y panfletos
Component and PIC testing - English
(junio 20, 2023)
Volantes y panfletos
Component and PIC testing - 中文
(junio 20, 2023)
Volantes y panfletos
Component and PIC testing - 日本語
(junio 20, 2023)